Skip to content
Версия сайта для слабовидящих
ФТИАН
Primary Navigation Menu
Menu
Главная
Институт
Официальная информация
Историческая справка
Дирекция
Лаборатории
Лаборатория микроструктурирования и субмикронных приборов
Лаборатория ионно-лучевых технологий
Лаборатория технологии микро и наносистем
Лаборатория физики поверхности микроэлектронных структур
Лаборатория математического моделирования физико-технологических процессов микроэлектроники
Лаборатория физики квантовых компьютеров
Лаборатория архитектуры высокопроизводительных вычислительных систем
Лаборатория функциональных диэлектриков для микроэлектроники
Лаборатория технологий электронной и оптической литографии
Структура института
Приборная база
Современное аналитическое оборудование ФТИАН
Технологическое оборудование для проведения процессов литографии
Технологическое оборудование для создания микро- и наноэлектронных структур
Конкурсы на замещение вакантных должностей
Госзакупки
Документы
Наука
Основные направления исследований
Международное сотрудничество
Важнейшие результаты
Научные проекты и НИР
Публикации
Диссертации и ученые степени сотрудников
Научные мероприятия
Конференции
Семинары
Издательская деятельность
Комитет трансфера знаний и технологий
Библиотека
Национальный проект «Наука и университеты»
Образование
Сотрудничество с ВУЗами
Научно-образовательный центр «Демидовский Центр нанотехнологий и инноваций»
Центр коллективного пользования «Диагностика микро- и наноструктур» в ЯФ ФТИАН
Диссертационный совет
Аспирантура
Разработки
Инновации
Новые технологии
Патенты
Программы для ЭВМ
Новости
Профсоюз
Контактная информация
Реквизиты института
Search
Nothing found
Apologies, but no entries were found.